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    • GT-BIR-65T大連高溫老化柜
      GT-BIR-65T大連高溫老化柜

      大連高溫老化柜是武漢格特為大連用戶設計的一款老化柜,采用上下獨立溫控,內(nèi)部總容量為3*6設計布局,內(nèi)部隔離為兩部分,每部分3*3 設計布局。

      更新日期:2025-03-05型號:GT-BIR-65T
    • GT-HX系列定制實驗室老化柜
      GT-HX系列定制實驗室老化柜

      定制實驗室老化柜以其高精度溫度控制、大容量與靈活性、良好的安全性、智能化與自動化以及耐用與穩(wěn)定等特點,在實驗室測試和產(chǎn)品研發(fā)領域發(fā)揮著重要作用。它能夠滿足不同實驗室的測試需求,提高測試效率和準確性,為產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制提供有力支持。

      更新日期:2024-11-21型號:GT-HX系列
    • GT-BIR-61B小型高溫老化柜
      GT-BIR-61B小型高溫老化柜

      小型高溫老化柜是一種在實驗室或小型生產(chǎn)線中常用的新型智能化控制設備。它可以根據(jù)需要定制,以適應不同大小和形狀的電子產(chǎn)品和零件。它配備了智能控制系統(tǒng),能實現(xiàn)自動化控制和數(shù)據(jù)記錄,廣泛適用于實驗室、生產(chǎn)線、科研和開發(fā)領域。

      更新日期:2024-11-21型號:GT-BIR-61B
    • GT-HG-N01移動電源老化柜
      GT-HG-N01移動電源老化柜

      移動電源老化柜是一種專門用于進行移動電源老化測試的設備。其主要功能是模擬實際使用環(huán)境中的充放電過程,對移動電源進行長時間、高負載的老化測試和評估。這種設備通常具備多個通道,可以同時連接和測試多個移動電源設備,以提高測試效率。

      更新日期:2024-11-21型號:GT-HG-N01
    • GT-HG-11N充電寶高溫老化柜
      GT-HG-11N充電寶高溫老化柜

      充電寶高溫老化柜是一種專門用于進行充電寶高溫老化測試的設備。它通過模擬高溫環(huán)境,對充電寶進行長時間充放電循環(huán)測試,以評估充電寶在高溫條件下的性能和可靠性。這種設備通常具備多通道設計,可以同時連接和測試多個充電寶設備,提高測試效率。在測試過程中,充電寶老化柜可以實時監(jiān)控輸出電壓、電流、功率等參數(shù),確保測試的準確性和可靠性。

      更新日期:2024-11-21型號:GT-HG-11N
    • GT-HX-S2LED電子屏老化柜
      GT-HX-S2LED電子屏老化柜

      LED電子屏老化柜是一種專用于LED電子屏老化測試的設備。該設備采用*的技術和控制方法,為LED電子屏提供高溫、高濕、高塵等惡劣環(huán)境下的老化測試條件,以評估其耐久性和穩(wěn)定性。

      更新日期:2024-11-21型號:GT-HX-S2
    • GT-HX-G2顯示屏高溫老化柜
      GT-HX-G2顯示屏高溫老化柜

      顯示屏高溫老化柜是一種專門用于顯示屏高溫老化測試的設備。該設備采用*的溫度控制系統(tǒng)和加熱技術,能夠為顯示屏提供高溫、高濕、高塵等惡劣環(huán)境下的老化測試條件,以評估顯示屏的耐久性和穩(wěn)定性。

      更新日期:2024-11-21型號:GT-HX-G2
    • GT-BIR-06AORT高溫老化柜
      GT-BIR-06AORT高溫老化柜

      ORT高溫老化柜是一種專門用于半導體和其他電子設備可靠性測試的設備。它通過在高溫條件下對設備進行長時間的老化測試,以模擬設備在實際使用環(huán)境中可能遇到的高溫情況,從而評估設備的可靠性、穩(wěn)定性和壽命。

      更新日期:2024-11-21型號:GT-BIR-06A
    • GT-BIR-66A半導體高溫老化柜
      GT-BIR-66A半導體高溫老化柜

      半導體高溫老化柜,也稱為ORT高溫老化柜,是一種專門用于半導體器件可靠性測試的設備。它通過模擬高溫、高濕、高壓等惡劣環(huán)境,對半導體器件進行長時間的老化處理,以評估其在實際使用環(huán)境中的性能表現(xiàn)和可靠性

      更新日期:2024-11-21型號:GT-BIR-66A
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